Diffraction des rayons X sur poudre
Contact
Bât. : 670 HM1 recherche
bureau salle : 3331
Tél. : 01 69 15 48 06
equipement salle 0229
Renseignements obtenus
La diffractométrie de rayons X (sur poudre) est une méthode d'analyse physico-chimique qualitative et quantitative. Cette technique permet de déterminer la nature de chaque phase cristalline au sein d'un échantillon mais aussi de remonter à la structure du système analysé (paramètres de maille, positions atomique, …)
Principe
La diffractométrie de rayons X est une technique d'analyse basée sur la diffraction des rayons X par la matière. La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des rayons X, et à analyser l'intensité des rayons X qui est diffusée selon l'orientation dans l'espace. Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc des maxima dans certaines directions, on parle de phénomène de «diffraction». On enregistre l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation 2θ du faisceau.
Matériaux
Tout type de matériaux cristallisés (minéraux, métaux, céramiques, produits organiques cristallisés)
Utilisation
Les appareils de diffraction sont en libre-service sous conditions d'accord (formation requise).
Options diverses
Possibilités d’utiliser différents types de porte-échantillon.