Institut de Chimie Moléculaire
& des Matériaux d’OrsaY
ACCÈS

Notre adresse

Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d’Orsay
Bâtiment 670, Université Paris-Saclay, UMR 8182
17 Avenue des Sciences
91400 Orsay – France

Pour venir à l’ICMMO

Situé sur le plateau de Saclay, l’ICMMO fait partie de la faculté des sciences d’Orsay. Vous pouvez venir à l’ICMMO en transports en commun ou en voiture. Voyez le plan du campus .

Par la route

En venant de Paris, deux possibilités :

  • Paris-Ouest : à la porte de Saint-Cloud prendre la N118, direction Chartres-Orléans, sortie 9, Centre Universitaire-Grandes Ecoles – Orsay-Le Guichet. Puis au rond-point, prendre la 2nde sortie Rue Louis de Broglie et tourner à droite sur l’Avenue des Sciences.
  • Paris-Sud : à partir de la Porte d’Orléans prendre l’autoroute A10 direction Bordeaux-Nantes, puis Chartres-Orléans, sortie Orsay-Bures. Emprunter la N118 jusqu’à la sortie 9, Centre Universitaire-Grandes Ecoles – Gif sur Yvette. Puis au rond-point, 1ère sortie Centre universitaire et au second rond-point, prendre la 3eme sortie Rue Louis de Broglie et tourner à droite sur l’Avenue des Sciences.

Pour le stationnement voir ici .

Par les transports en commun

Prendre le RER ligne B en direction de Saint-Rémy-les-Chevreuse, descendre à la station Le Guichet puis prendre le bus Transdev 9 ou descendre à la station Orsay puis prendre le bus Transdev 7 à Gare d’Orsay – l’Yvette.

Microscopes électroniques à balayage et à transmission

Contact
François BRISSET
Envoyer un mail
Bât. : 670 – HM1 recherche – bureau 0014
Tél. : 01 69 15 54 30

Renseignements obtenus

Renseignements obtenus

Caractérisation de matériaux inorganiques et organiques. Détermination de caractéristiques morphologiques, microstructurales, microtexturales et microchimiques.

Principe

Un faisceau électronique interagit avec l’échantillon. Les interactions élastiques et inélastiques génèrent différents types de signaux dont certains vont être détectés et analysés.

Matériaux

A peu près tous les types de matériaux (propres et non hydratés) et préparés comme il se doit. D’autres restrictions possibles liées à la taille des phases à analyser ou de l’échantillon, des conditions de travail à utiliser, etc.

Utilisation

Les microscopes ne sont généralement pas en accès libre. Prendre RdV pour les expérimentations.

Options diverses

Voir les pages spécifiques des différents instruments.

Préparation d’échantillons par polissage classiques, vibrant, ionique, diverses métalisations possibles.

Document complémentaire à télécharger

Quelques principes de base : document à télécharger

Caractéristiques MEB-FEG ZEISS Supra 55 VP

Modèle : MEB-FEG ZEISS Supra 55 VP
Accessoires
Imagerie électronique
SE
BSE (type YAG)
in-lens
STEM
Systèmes d’analyse (EDAX-TSL)
EDS (spectres, lignes, cartographies, multiscan, analyse de phases)
EBSD (clichés et cartographies, multiscans)
Analyses combinées EDS et EBSD
Suites logiciels OIM, TEAM, APEX
Autres options
Platine chauffante Gatan 650° compatible EBSD
Platine chauffante Gatan 1000°

Caractéristiques MEB-FEG ZEISS Sigma HD

Modèle : MEB-FEG ZEISS Sigma HD
Accessoires
Imagerie électronique
SE
BSE (4 diodes)
in-lens
Systèmes d’analyse
EDS SAMx (spectres, lignes, cartographies, analyse de phases)
EBSD NORDIF (clichés, cartographies, multiscan) et OIM
Suites logiciels IDFix-Maxview et OIM
Autres options
Platine de flexion
Platines chauffante et refroidie
Cathodoluminescence spectrale

Caractéristiques MET Jeol 2100 Plus STEM

Modèle : MET Jeol 2100 Plus STEM
Caméra
EDS
Non situé à l’ICMMO, me contacter
Accessoires
Imagerie électronique
MODE TEM
MODE STEM
MODE diffraction
Caméra
Gatan CMOS RIO 16
Système d’analyse
EDS SAMx (spectres, lignes, cartographies)
Autres options
Porte-objet simple inclinaison
Porte-objet bérylium sur simple inclinaison
Porte-objet double inclinaison
Porte-objet multi-positions